高光谱荧光成像技术在识别早期腐烂脐橙中的应用研究

人气:158 ℃/2023-02-26 02:43:55
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摘要:腐烂是发生在柑橘类水果中最普遍、最严重的病害,早期腐烂果的自动化检测有助于提高水果加工业的市场竞争力.然而,目前没有有效的自动化检测技术.以脐橙为研究对象,利用荧光高光谱成像检测早期腐烂果.最佳指数OIF理论用于识别腐烂果的最优波段组合498.6和591.4nm.基于最优波长的比图像及双阈值分割算法,识别率达到100%.研究表明,该方法能有效克服梗伤果及果梗在紫外线诱导下所产生的荧光效应对腐烂果识别的影响.该研究为基于多光谱成像技术对早期腐烂果的在线检测系统的开发奠定了基础. 作者: 李江波王福杰应义斌饶秀勤 Author: LIJiang-boWANG Fu-jieYING Yi-binRAO Xiu-qin 作者单位: 浙江大学生物系统工程与食品科学学院,浙江杭州,310058 期 刊: 光谱学与光谱分析 ISTICEISCIPKU Journal: Spectroscopy and Spectral Analysis年,卷期: 2012, 321 分类号: S126 TP391.4 关键词: 高光谱荧光图像 波段比算法 OIF理论 脐橙 早期腐烂 梗伤 机标分类号: TJ5 D69 机标关键词:高光谱荧光成像技术识别率腐烂脐橙应用研究DetectionTechnologyImageFluorescence自动化检测多光谱成像技术在线检测系统阈值分割算法紫外线诱导市场竞争力荧光效应研究对象水果检测技术基金项目: 国家杰出青年科学基金项目,中央高校基本科研业务费资助项目 高光谱荧光成像技术在识别早期腐烂脐橙中的应用研究[期刊论文]光谱学与光谱分析--2012, 321李江波王福杰应义斌饶秀勤腐烂是发生在柑橘类水果中最普遍、最严重的病害,早期腐烂果的自动化检测有助于提高水果加工业的市场竞争力.然而,目前没有有效的自动化检测技术.以脐橙为研究对象,利用荧光高光谱成像检测早期腐烂果.最佳指数OIF理论用于...

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